公告概要：

公告信息：
采购项目名称	清华大学高分辨高灵敏度表面分析系统采购项目
品目	货物/专用设备/专用仪器仪表/其他专用仪器仪表
采购单位	清华大学
行政区域	北京市	公告时间	(略)年(略)月(略)日 (略)：(略)
本项目招标公告日期	(略)年(略)月(略)日	中标日期	(略)年(略)月(略)日
评审专家名单	评标委员会名单：(略)
总中标金额	￥(略).(略) 万元（人民币）
联系人及联系方式：
项目联系人	王慧
项目联系电话	(略)
采购单位	清华大学
采购单位地址	北京市海淀区清华大学
采购单位联系方式	王慧(略)
代理机构名称	详见公告正文
代理机构地址	详见公告正文
代理机构联系方式	详见公告正文

“清华大学高分辨高灵敏度表面分析系统采购项目”项目（项目编号：(略)
一、项目信息
项目编号：(略)
项目名称：(略)
项目联系人：(略)
联系方式：(略)
二、采购单位信息
采购单位名称：(略)
采购单位地址：(略)
采购单位联系方式：(略)
三、项目用途、简要技术要求及合同履行日期：
高分辨表面形貌分析和微区的高灵敏度成分、结构分析及快速的三维重构分析，将主要用于材料相关学科的前沿科学研究。
高分辨高灵敏度表面分析系统由等离子体聚焦离子束电子束双束显微镜（FIB-SEM）与飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）、共聚焦拉曼、能谱（EDS） 、 电子背散射衍射（EBSD）深度集成，用于高分辨表面形貌分析和实现微区的高灵敏度成分、结构分析以及大面积快速的三维重构分析，可以进行ppm级痕量元素的分析、轻元素微区分析以及快速的离子束加工，同时具有原位拉曼微区分析和快速拉曼成像的功能。
▲3.1 集成在SEM中的激光共聚焦拉曼系统和集成在FIB中的飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）系统，应该是成熟的集成产品，在国内已安装使用的用户数分别≥2个（提供用户名单和联系方式）。
四、中标信息
招标公告日期：(略)
中标日期：(略)
总中标金额：(略)
中标供应商名称、联系地址及中标金额：
中 标 人：(略)
地    址：(略)
中标金额：(略)
本项目招标代理费总金额：(略)
本项目招标代理费收费标准：
评标委员会成员名单：
评标委员会名单：(略)
中标标的名称、规格型号、数量、单价、服务要求：
标的名称：(略)
型号：(略)
数量：(略)
单价：(略)
服务：(略)
五、其它补充事宜